Fine-Pitch Automotive Waferprobing

Land:
Österreich

Kunde:
T.I.P.S. Messtechnik GmbH, Villach

Hintergrund:
Das Haupttätigkeitsfeld der Firma T.I.P.S. liegt in der Entwicklung und dem Bau von sogenannten Probecards zum testen von Halbleiterbauelementen für den automotive Bereich.

CTR Leistung:
Ziel des Forschungsprojektes war die Verbesserung dieser Probcards hinsichtlich Robustheit und Lebensdauer. Die Aufgabe der CTR war die Simulation zur Optimierung der Nadelgeometrie sowie die Entwicklung und der Bau eines automatischen Probcard-Testers.
Durch die ständig fortschreitende Miniaturisierung elektronischer Bauelemente muss auch das Testequipment immer feiner werden. Um die hohe Integrationsdichte und das geforderte Kontaktverhalten zu erreichen, wurden die Kontaktnadeln mit Hilfe von Simulationen optimiert. Das automatische Probecard-Testcenter ermöglicht bei Neuentwicklungen die Zuverlässigkeit und die Lebensdauer der Probecards zu ermitteln.

Projektdauer:
6 Monate

Leistung- & Lieferumfang:
Konzeption, Elektronik- und Softwareentwicklung sowie Aufbau eines automatischen Probecardtesters, Finite-Elemente-Simulation und Test von Probecards

„Durch die Zusammenarbeit mit CTR ist es uns gelungen, im Bereich der Mikrokontaktierungen für Automotive Chips neue und grundlegende Erkenntnisse über die Mechanik des Systems Prüfnadeln - Chipkontaktfläche sowie der beim Testen von hohen strömen auftretenden thermo-elektrischen Effekte zu gewinnen.
CTR erstellte in diesem Zusammenhang numerische Simulationen mit sehr guter Annäherung an die in der Praxis tatsächlich auftretenden Verhältnisse.
Die Ergebnisse der Simulationen wurden seitens TIPS im Probe Card Testlabor überprüft.
Die in den Rechenmodellen gewonnenen Erkenntnisse erlauben uns nun, schnell auf geänderte Anforderungen im Bereich der Mikrokontaktierungen - Stichwort "fine pitch" - zu reagieren. Mit Hilfe der in diesem Projekt gewonnenen Erkenntnisse können die Eigenschaften neuer Kontaktgeometrien nun schon im Vorfeld gut vorhergesagt werden und dadurch die Anzahl der Iterationen in der Entwicklungsphase entscheidend verringert werden.“
Statement: Dr. Rainer Gaggl

Bild: Simulation Probernadel